基于影像的芯片质量检测方法研究

2005级  王晓南

指导教师：郑顺义

摘    要

计算机视觉既是工程领域又是科学领域的一个重要研究领域，它是一门综合性学科，包括了计算机科学、信号处理、物理学、应用数学和统计学、生物学和认知科学等。视觉是各个应用领域，如制造业、检验、医疗诊断、军事等领域中各种智能/自主系统中不可分割的一部分。由于它的重要性，一些先进国家，例如美国把对计算机视觉的研究列为对经济和科学有广泛影响的科学和工程中的重大基本问题，即所谓的重大挑战（grand challenge）。

国内外芯片产业发展迅速，芯片指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他设备的一部分。芯片的工艺往往十分精细，目前Inter PM45高速芯片组的线宽已经达到45纳米，所以芯片上有任何细小的“暇疵”都会影响芯片的质量。基于影像自动检测芯片的质量，可以代替繁琐的人工识别，而且容易达到更高的检测质量和更快的检测速度。

本文研究了芯片影像中重复影像块的快速检测方法及基于最小二乘原理的精确测距方法，利用VC++根据文中的方法进行了一系列实验，实现了从影像到检测结果的全过程，为芯片质量的自动检测奠定了重要基础。

关键词：影像；芯片；检测；最小二乘